Trägermodule zum Anpassen von Nicht-Standard-Gerätekarten an Testsysteme

EP1747475 Art B1 20. August 2008

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1747475
Aktenzeichen
EP05743261
Anmeldetag
20. Mai 2005
Veröffentlichung
20. August 2008
Erteilung
20. August 2008
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/319
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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