Erzeugung einer Siliziumoxynitridschicht auf einem Dielektrischen Material mit Hohem K

EP1747581 Art A1 31. Januar 2007

Anmelder: Applied Materials, Inc., APPLIED MATERIALS, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1747581
Aktenzeichen
EP05749300
Anmeldetag
12. Mai 2005
Veröffentlichung
31. Januar 2007
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/314C23C16/30
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
Applied Materials, Inc.
APPLIED MATERIALS, INC.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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