Atomkraftmikroskop-Sonde mit einer doppelten Spitze und deren Herstellungsverfahren.
EP1748447
Art B1
22. Oktober 2008
Anmelder: IMEC, INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1748447
- Aktenzeichen
- EP05447195
- Anmeldetag
- 30. August 2005
- Veröffentlichung
- 22. Oktober 2008
- Erteilung
- 22. Oktober 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G12B21/02G12B21/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC
INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
2.629 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Van Malderen, Joëlle
Liège, Belgien
744
Patente gesamt
33
Fachgebiete
18
Anmelder-Länder
Schwerpunkte