Dreidimensionales Messsystem und Verfahren dafür sowie farbkodierte Markierung
EP1750090
Art A3
13. Oktober 2010
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1750090
- Aktenzeichen
- EP06016003
- Anmeldetag
- 1. August 2006
- Veröffentlichung
- 13. Oktober 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01C11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München