Vorrichtung und Verfahren zur relativen Positionsmessung einer periodischen oder quasi-periodischen Markierung
Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1750099
- Aktenzeichen
- EP05291654
- Anmeldetag
- 3. August 2005
- Veröffentlichung
- 21. Mai 2008
- Erteilung
- 21. Mai 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D5/244
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement - Land
- 🇨🇭 Schweiz
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.
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Fachgebiete
2008 gegründet von einem Ingenieur mit vorheriger Erfahrung als zugelassener Vertreter beim Europäischen Patentamt. Schwerpunkt auf Elektronik, Informatik, Telekommunikation und Signalverarbeitung, betreut Großkonzerne bis Einzelerfinder auf Französisch und Englisch.