Vorrichtung und Verfahren zur relativen Positionsmessung einer periodischen oder quasi-periodischen Markierung

EP1750099 Art B1 21. Mai 2008

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1750099
Aktenzeichen
EP05291654
Anmeldetag
3. August 2005
Veröffentlichung
21. Mai 2008
Erteilung
21. Mai 2008
Rechtsraum
EP
IPC
G01D5/244
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement
Land
🇨🇭 Schweiz
🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

326 Patente in unserer Datenbank

Kanzlei
Cabinet Bonnet Paris, Frankreich

2008 gegründet von einem Ingenieur mit vorheriger Erfahrung als zugelassener Vertreter beim Europäischen Patentamt. Schwerpunkt auf Elektronik, Informatik, Telekommunikation und Signalverarbeitung, betreut Großkonzerne bis Einzelerfinder auf Französisch und Englisch.

293
Patente gesamt
1
Patentanwälte
1
Standorte

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen