Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Oberflächen im Inneren von Löchern
EP1754018
Art B1
11. Juli 2018
Anmelder: Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1754018
- Aktenzeichen
- EP05753788
- Anmeldetag
- 17. Mai 2005
- Veröffentlichung
- 11. Juli 2018
- Erteilung
- 11. Juli 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Fachgebiete
Vertreten von
Naumann, Ulrich
Heidelberg, Deutschland
197
Patente gesamt
30
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Ullrich & Naumann PartG mbB
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
-
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg