Vorrichtung für Spektroskopische In-Situ-Messungen

EP1754045 Art B1 14. Juli 2021

Anmelder: Finesse Solutions, Inc., Finesse Instruments, LLC, Envision Instruments, LLC, Harvard, John M., Williams, Paul C. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1754045
Aktenzeichen
EP05769090
Anmeldetag
27. Mai 2005
Veröffentlichung
14. Juli 2021
Erteilung
14. Juli 2021
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/53G01N21/64G01N21/85H01S5/183G01N21/03
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Finesse Solutions, Inc.
Finesse Instruments, LLC
Envision Instruments, LLC
Harvard, John M.
Williams, Paul C.
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Leeming, John Gerard London, Großbritannien
2.212
Patente gesamt
31
Fachgebiete
20
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation Software & Datenverarbeitung Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Zum Anwaltsprofil
Weitere Vertreter

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen