Verfahren und Struktur zur Entwicklung eines Testprogramms für Integrierte Halbleiterschaltungen
EP1756602
Art B1
9. Dezember 2009
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1756602
- Aktenzeichen
- EP05743262
- Anmeldetag
- 23. Mai 2005
- Veröffentlichung
- 9. Dezember 2009
- Erteilung
- 9. Dezember 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319G01R31/3183G06F11/26G06F17/50
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Nicholls, Michael John
London, Großbritannien
1.551
Patente gesamt
32
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte