Verfahren und System zur Steuerung Wechselbarer Komponenten in einem Modularen Testsystem
EP1756603
Art B1
5. August 2009
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1756603
- Aktenzeichen
- EP05743357
- Anmeldetag
- 23. Mai 2005
- Veröffentlichung
- 5. August 2009
- Erteilung
- 5. August 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
Nicholls, Michael John
London, Großbritannien
1.551
Patente gesamt
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17
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