Verfahren und System zum Simulieren eines Modularen Testsystems

EP1756605 Art B1 7. November 2007

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1756605
Aktenzeichen
EP05743583
Anmeldetag
23. Mai 2005
Veröffentlichung
7. November 2007
Erteilung
7. November 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/319G01R31/3183G06F11/26G06F17/50
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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