Unterstützung von Kalibration und Diagnose in einem Testsystem mit Offener Architektur
EP1756606
Art B1
12. August 2009
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1756606
- Aktenzeichen
- EP05743591
- Anmeldetag
- 23. Mai 2005
- Veröffentlichung
- 12. August 2009
- Erteilung
- 12. August 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Nicholls, Michael John
London, Großbritannien
1.551
Patente gesamt
32
Fachgebiete
17
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Schwerpunkte