Testeinrichtung und Testverfahren
EP1757947
Art A1
28. Februar 2007
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1757947
- Aktenzeichen
- EP05751483
- Anmeldetag
- 14. Juni 2005
- Veröffentlichung
- 28. Februar 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319G01R31/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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