Programm, Gerät und System zur Augenuntersuchung

EP1759630 Art A3 5. September 2007

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1759630
Aktenzeichen
EP06018102
Anmeldetag
30. August 2006
Veröffentlichung
5. September 2007
Rechtsraum
EP
IPC
A61B3/06
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Kabushiki Kaisha TOPCON
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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