Verfahren und System für optische Distanz- und Winkelmessung
EP1764585
Art A1
21. März 2007
Anmelder: Honeywell International Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1764585
- Aktenzeichen
- EP06120980
- Anmeldetag
- 20. September 2006
- Veröffentlichung
- 21. März 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D11/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Honeywell International Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Honeywell
US-amerikanischer Mischkonzern mit Schwerpunkten in Luft- und Raumfahrttechnik, Automatisierungslösungen, Gebäudetechnik sowie Spezialchemikalien und -materialien für Industrie- und Verteidigungskunden.
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Haley, Stephen
London, Großbritannien
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