Testvorrichtung

EP1767955 Art B1 1. Oktober 2008

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1767955
Aktenzeichen
EP06077162
Anmeldetag
30. März 2004
Veröffentlichung
1. Oktober 2008
Erteilung
1. Oktober 2008
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/3183G06F11/26
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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