Dreidimensionales Messsystem mit Projektionsvorrichtung
EP1770356
Art A3
9. Mai 2007
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1770356
- Aktenzeichen
- EP06020585
- Anmeldetag
- 29. September 2006
- Veröffentlichung
- 9. Mai 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/25G01C11/06G06T7/00H04N13/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München