Positionsmesseinrichtung mit zwei Massverkörperungen deren Codespuren sich gegenseitig überlappen
EP1770375
Art B1
28. Dezember 2016
Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1770375
- Aktenzeichen
- EP06015000
- Anmeldetag
- 19. Juli 2006
- Veröffentlichung
- 28. Dezember 2016
- Erteilung
- 28. Dezember 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D5/347G01D5/245G01D5/249
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Dr. Johannes Heidenhain GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Dr. Johannes Heidenhain
Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.
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