Mikroskop und Autofokussierverfahren für ein Mikroskop

EP1770428 Art B1 22. Juni 2011

Anmelder: SYSMEX CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1770428
Aktenzeichen: EP06020400
Anmeldetag: 28. September 2006
Veröffentlichung: 22. Juni 2011
Erteilung: 22. Juni 2011
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/24G02B21/36G02B7/36G02B7/38

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SYSMEX CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sysmex

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Kobe, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Labordiagnostik- und Analysegeräten, insbesondere für Hämatologie und klinische Chemie.

921 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Optik & Fototechnik

Vertreten von