Verfahren zur Bestimmung der Zeit Bis zum Ausfall von Submikrometer-Metallverbindungen
EP1771743
Art B1
4. August 2010
Anmelder: IMEC, Universiteit Hasselt, INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM vzw (IMEC) 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1771743
- Aktenzeichen
- EP05745292
- Anmeldetag
- 11. Mai 2005
- Veröffentlichung
- 4. August 2010
- Erteilung
- 4. August 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC
Universiteit Hasselt
INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM vzw (IMEC) - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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