Scanmikroskop und Scanverfahren mit einem Scanmikroskop
EP1772762
Art A1
11. April 2007
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1772762
- Aktenzeichen
- EP06121130
- Anmeldetag
- 22. September 2006
- Veröffentlichung
- 11. April 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Vertreten von
Stamer, Harald
Wetzlar, Deutschland
60
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10
Fachgebiete
3
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