Optische Bildmessvorrichtung, optisches Bildmessprogramm, Fundusbeobachtungsvorrichtung und -programm
EP1775545
Art B1
27. Mai 2009
Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1775545
- Aktenzeichen
- EP06021329
- Anmeldetag
- 11. Oktober 2006
- Veröffentlichung
- 27. Mai 2009
- Erteilung
- 27. Mai 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02A61B5/00A61B3/12G01N21/47
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha TOPCON
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kabushiki Kaisha Topcon
Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.
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