System und Verfahren zur Überprüfung der Abmessungen von Schaufelprofilen
EP1777495
Art B1
26. Februar 2014
Anmelder: United Technologies Corporation, UNITED TECHNOLOGIES CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1777495
- Aktenzeichen
- EP06254263
- Anmeldetag
- 15. August 2006
- Veröffentlichung
- 26. Februar 2014
- Erteilung
- 26. Februar 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B21/20G01B5/20G05B19/401
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- United Technologies Corporation
UNITED TECHNOLOGIES CORPORATION - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
RTX Corporation
US-amerikanischer Luft- und Raumfahrt- sowie Verteidigungskonzern, entstanden aus Raytheon und United Technologies. Entwickelt und fertigt Triebwerke, Avionik, Radarsysteme, Raketen- und Verteidigungstechnik für zivile und militärische Kunden.
10.206 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Hull, James Edward
London, Großbritannien
1.457
Patente gesamt
30
Fachgebiete
9
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Leckey, David Herbert
NoneLondon