Nivellierdetektor

EP1777496 Art B1 5. November 2014

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1777496
Aktenzeichen: EP06021852
Anmeldetag: 18. Oktober 2006
Veröffentlichung: 5. November 2014
Erteilung: 5. November 2014
Rechtsraum: EP
IPC: G01C15/00G01C5/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

599 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von