Vorrichtung und Verfahren für Defektanalyse von gedruckten Schaltplatinen

EP1785736 Art A3 23. November 2011

Anmelder: OMRON Corporation, OMRON Corporation, a corporation of Japan 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1785736
Aktenzeichen: EP06022833
Anmeldetag: 2. November 2006
Veröffentlichung: 23. November 2011
Rechtsraum: EP
IPC: G01R31/28G01R31/309G06T7/00H01L21/67

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: OMRON Corporation
OMRON Corporation, a corporation of Japan
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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