Testeinrichtung, Konfigurationsverfahren und Einrichtungsschnittstelle
EP1790990
Art A1
30. Mai 2007
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1790990
- Aktenzeichen
- EP05780236
- Anmeldetag
- 15. August 2005
- Veröffentlichung
- 30. Mai 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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