Verfahren zur Bewertung von Eigenschaften und zur Bildung eines Isolationsfilms für ein Halbleiterbauelement

EP1792334 Art A1 6. Juni 2007

Anmelder: Seiko Epson Corporation, SEIKO EPSON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1792334
Aktenzeichen
EP05748474
Anmeldetag
1. Juni 2005
Veröffentlichung
6. Juni 2007
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/316H01L21/28H01L21/30C23C16/40
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
Seiko Epson Corporation
SEIKO EPSON CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Epson

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