Optisches Weitwinkelsystem für eine Aufnahmevorrichtung

EP1801629 Art A1 27. Juni 2007

Anmelder: Enplas Corporation, ENPLAS CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1801629
Aktenzeichen
EP06126629
Anmeldetag
20. Dezember 2006
Veröffentlichung
27. Juni 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G02B13/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Enplas Corporation
ENPLAS CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Enplas

Enplas ist ein japanischer Hersteller optischer und feinmechanischer Kunststoffkomponenten, unter anderem für Displays, Steckverbinder und Halbleitertests. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Optik und Fototechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Mess- und Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

606 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen