Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion von Kratzern auf Äusserem Zellengehäuse

EP1806577 Art A1 11. Juli 2007

Anmelder: Toyo Kohan Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1806577
Aktenzeichen: EP05805287
Anmeldetag: 25. Oktober 2005
Veröffentlichung: 11. Juli 2007
Rechtsraum: EP
IPC: G01N27/83H01M2/02G01N27/90H01M10/42H01M6/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Toyo Kohan Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Toyo Kohan

Der Anmelder ist ein japanischer Hersteller von Metallwerkstoffen und Verbundmaterialien. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Metallurgie und Oberflächentechnik sowie auf Fertigungs- und Drucktechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente und pharmazeutische Anwendungen. Anmeldungen laufen seit dem Jahr 2000 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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