Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Halbleiterplatten
EP1812205
Art A1
1. August 2007
Anmelder: Soitec, S.O.I.TEC. Silicon on Insulator Technologies S.A. 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1812205
- Aktenzeichen
- EP05819322
- Anmeldetag
- 15. November 2005
- Veröffentlichung
- 1. August 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B24B37/04B24B49/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Soitec
S.O.I.TEC. Silicon on Insulator Technologies S.A. - Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Soitec
Französischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Bernin, spezialisiert auf Silicon-on-Insulator (SOI) Substrate. Patente decken Halbleitermaterialien und Waferbondtechnik ab.
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Desormiere, Pierre-Louis
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