Testeinrichtung und Testverfahren
EP1818676
Art B1
22. September 2010
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1818676
- Aktenzeichen
- EP05793127
- Anmeldetag
- 11. Oktober 2005
- Veröffentlichung
- 22. September 2010
- Erteilung
- 22. September 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3187G01R31/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Bergmann, Jürgen
Berlin, Deutschland
32
Patente gesamt
17
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte