Elektronischer Schaltkreis, der einen mittels Unterbrechung einer Testkette gesicherten Testmodus umfasst
EP1818677
Art B1
30. März 2011
Anmelder: STMicroelectronics S.A. 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1818677
- Aktenzeichen
- EP07101475
- Anmeldetag
- 31. Januar 2007
- Veröffentlichung
- 30. März 2011
- Erteilung
- 30. März 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/317G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- STMicroelectronics S.A.
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇨🇭
STMicroelectronics International
Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.
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