Testschaltung und Testverfahren für ein Halbleiterbauelement und Halbleiterchip
EP1826580
Art B1
10. März 2010
Anmelder: Fujitsu Microelectronics Limited, FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1826580
- Aktenzeichen
- EP06253423
- Anmeldetag
- 29. Juni 2006
- Veröffentlichung
- 10. März 2010
- Erteilung
- 10. März 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/317
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fujitsu Microelectronics Limited
FUJITSU LIMITED - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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Fachgebiete
Vertreten von
Gibbs, Christopher Stephen
London, Großbritannien
145
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29
Fachgebiete
8
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