Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Integrierten Schaltungen auf Latchup-Anfälligkeit
EP1839063
Art A1
3. Oktober 2007
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1839063
- Aktenzeichen
- EP05702802
- Anmeldetag
- 27. Januar 2005
- Veröffentlichung
- 3. Oktober 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/316H01L23/544
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
7.818 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Williamson, Paul Lewis
Eindhoven, Niederlande
1.451
Patente gesamt
19
Fachgebiete
11
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
White, Andrew Gordon
NoneEindhoven