Optisches Interferometer zur Messung von Dickenänderungen

EP1840502 Art B1 16. September 2009

Anmelder: Mitutoyo Corporation, MITUTOYO CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1840502
Aktenzeichen
EP07104867
Anmeldetag
26. März 2007
Veröffentlichung
16. September 2009
Erteilung
16. September 2009
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02G01B11/06H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Mitutoyo Corporation
MITUTOYO CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Mitutoyo Corporation

Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.

688 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen