Verfahren und Vorrichtung zur Messung Elektronischer Vorrichtungen

EP1840583 Art A1 3. Oktober 2007

Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1840583
Aktenzeichen
EP06711756
Anmeldetag
17. Januar 2006
Veröffentlichung
3. Oktober 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G01R27/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
TOHOKU UNIVERSITY
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Tohoku University

Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.

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