Mikroskop mit einem optischen System zur Detektion von Fokussierfehlern

EP1840623 Art B1 8. Mai 2013

Anmelder: Yokogawa Electric Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1840623
Aktenzeichen: EP07006439
Anmeldetag: 28. März 2007
Veröffentlichung: 8. Mai 2013
Erteilung: 8. Mai 2013
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/24G02B7/28G02B7/32

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Yokogawa Electric Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Yokogawa Electric

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das Mess-, Steuerungs- und Automatisierungstechnik für Industrieprozesse sowie elektronische Messgeräte entwickelt und herstellt.

1.391 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Optik & Fototechnik

Vertreten von