System und Verfahren zur Ortung von Merkmalen auf einem Objekt
EP1843125
Art A3
26. Januar 2011
Anmelder: United Technologies Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1843125
- Aktenzeichen
- EP07251497
- Anmeldetag
- 4. April 2007
- Veröffentlichung
- 26. Januar 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- United Technologies Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
RTX Corporation
US-amerikanischer Luft- und Raumfahrt- sowie Verteidigungskonzern, entstanden aus Raytheon und United Technologies. Entwickelt und fertigt Triebwerke, Avionik, Radarsysteme, Raketen- und Verteidigungstechnik für zivile und militärische Kunden.
10.206 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Hull, James Edward
London, Großbritannien
1.457
Patente gesamt
30
Fachgebiete
9
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Leckey, David Herbert
NoneLondon