Oberflächenpositionsmessverfahren und -Vorrichtung
EP1845361
Art A1
17. Oktober 2007
Anmelder: National University Corporation Hokkaido University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1845361
- Aktenzeichen
- EP05819516
- Anmeldetag
- 22. Dezember 2005
- Veröffentlichung
- 17. Oktober 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N13/16G01B21/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National University Corporation Hokkaido University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National University Corporation Hokkaido University
Staatliche japanische Universität in Sapporo mit breiter Forschung, u.a. in Agrarwissenschaften, Ingenieurwesen und Materialwissenschaften.
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Vertreten von
Schaeberle, Steffen
München, Deutschland
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