Vorrichtung und Verfahren zum Nachweis eines Defekts bei einer Glasscheibenendoberfläche
EP1850120
Art A1
31. Oktober 2007
Anmelder: CENTRAL GLASS COMPANY, LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1850120
- Aktenzeichen
- EP06713514
- Anmeldetag
- 10. Februar 2006
- Veröffentlichung
- 31. Oktober 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/958G01B11/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CENTRAL GLASS COMPANY, LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Central Glass
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das Flachglas, Spezialglas sowie Fluorchemikalien für Industrie und Bauwesen herstellt.
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