Strukturdefektprüfungsverfahren, Verfahren zur Herstellung einer Fotomaske und Verfahren zur Herstellung eines Trägers für ein Anzeigeelement

EP1850176 Art A3 12. Januar 2011

Anmelder: HOYA CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1850176
Aktenzeichen: EP07104989
Anmeldetag: 27. März 2007
Veröffentlichung: 12. Januar 2011
Rechtsraum: EP
IPC: G03F1/00G03F1/14G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HOYA CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hoya

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, aktiv in den Bereichen optische Gläser, Halbleiterfotomasken und medizinische Endoskopie- sowie Augenheilkundeprodukte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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