Aberrations-Detektionseinrichtung und damit Ausgestattete Optische Erfassungseinrichtung
EP1855275
Art A1
14. November 2007
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1855275
- Aktenzeichen
- EP06715048
- Anmeldetag
- 2. März 2006
- Veröffentlichung
- 14. November 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11B7/135
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sharp Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
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Fachgebiete
Vertreten von
Müller, Frithjof E
München, Deutschland
491
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6
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