Prüfeinrichtung, Prüfverfahren, Herstellungsverfahren für Elektronische Bauelemente, Prüfsimulator und Prüfsimulationsverfahren
EP1870725
Art B1
25. August 2010
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1870725
- Aktenzeichen
- EP06728703
- Anmeldetag
- 7. März 2006
- Veröffentlichung
- 25. August 2010
- Erteilung
- 25. August 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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