Verfahren, Vorrichtung und Programm zur Einstellung eines Bezugswertes zur Substratüberprüfung
EP1874107
Art B1
8. Februar 2012
Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1874107
- Aktenzeichen
- EP07110486
- Anmeldetag
- 18. Juni 2007
- Veröffentlichung
- 8. Februar 2012
- Erteilung
- 8. Februar 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H05K13/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- OMRON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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