Testverfahren für Halbleiterspeicher
EP1890298
Art B1
7. Oktober 2009
Anmelder: Fujitsu Microelectronics Limited, Fujitsu Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1890298
- Aktenzeichen
- EP07119925
- Anmeldetag
- 22. April 2002
- Veröffentlichung
- 7. Oktober 2009
- Erteilung
- 7. Oktober 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fujitsu Microelectronics Limited
Fujitsu Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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Fenlon, Christine Lesley
London, Großbritannien
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