Verfahren für Parallele Datenintegritätstests von Pci-Expressvorrichtungen
EP1897333
Art B1
27. März 2013
Anmelder: Partners for Corporate Research International, Partners for Corporate Research International a Cayman Islands Company, NXP B.V. 🇰🇾
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1897333
- Aktenzeichen
- EP06765817
- Anmeldetag
- 21. Juni 2006
- Veröffentlichung
- 27. März 2013
- Erteilung
- 27. März 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L29/08G06F13/42H04L1/00H04L12/70G06F9/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Partners for Corporate Research International
Partners for Corporate Research International a Cayman Islands Company
NXP B.V. - Land
- 🇰🇾 KY
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
7.918 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
O'Callaghan, Robert James
Sevenoaks, Großbritannien
167
Patente gesamt
29
Fachgebiete
12
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Schouten, Marcus Maria
NoneEindhoven
-
Röggla, Harald
NoneWien