Überwachung der Schlitzbildung in Substraten
EP1910084
Art A1
16. April 2008
Anmelder: HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P., Hewlett-Packard Development Company, L.P. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1910084
- Aktenzeichen
- EP06785209
- Anmeldetag
- 19. Juni 2006
- Veröffentlichung
- 16. April 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B41J2/16B23K26/03B23K26/38B23K26/40B23K26/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P.
Hewlett-Packard Development Company, L.P. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Hewlett-Packard
US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Palo Alto, Kalifornien. Aktiv in Computerhardware, Druckern, Speicherlösungen sowie Unternehmens-IT und Cloud-Infrastruktur.
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Powell, Stephen David
Bromley, Großbritannien
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