Halbleitergehäuse aus Kunststoff mit Verbesserter Abmessungskontrolle

EP1917132 Art B1 31. März 2021

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1917132
Aktenzeichen
EP06788312
Anmeldetag
21. Juli 2006
Veröffentlichung
31. März 2021
Erteilung
31. März 2021
Rechtsraum
EP
IPC
B29C45/14B29C70/72H01L21/56
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Texas Instruments Incorporated
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Kunststoff- & Polymertechnik
Vertreten von
Zeller, Andreas Texas Instruments Deutschland GmbH · Inhouse Freising, Deutschland
1.261
Patente gesamt
26
Fachgebiete
14
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation Elektrische Energietechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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