Kalibrierungsplatte für eine Vorrichtung zum Testen Elektronischer Bauteile

EP1921459 Art A1 14. Mai 2008

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1921459
Aktenzeichen
EP06796585
Anmeldetag
21. August 2006
Veröffentlichung
14. Mai 2008
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/28G01R31/26G01R35/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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