Methode zum Entfernen von Schwermetallkontamination aus III-V Halbleiter-Substraten

EP1950326 Art A1 30. Juli 2008

Anmelder: IMEC, Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1950326
Aktenzeichen
EP07001836
Anmeldetag
29. Januar 2007
Veröffentlichung
30. Juli 2008
Rechtsraum
EP
IPC
C23F1/18C23F3/06H01L21/3213H05K3/06H05K3/38
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
IMEC
Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

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