Verfahren zur Optimierung mehrerer Parameter durch Hybrid-Ga, Verfahren zum Analysieren von Daten durch Mustervergleich, Verfahren zur Substanzschätzung auf der Basis von Strahlungsdefraktometrischen Daten und Programm, Aufzeichnungsmedium und Verschiedene Einrichtungen in Bezug Darauf
EP1962234
Art A1
27. August 2008
Anmelder: National University Corporation Nagoya University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1962234
- Aktenzeichen
- EP06834369
- Anmeldetag
- 4. Dezember 2006
- Veröffentlichung
- 27. August 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06N3/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National University Corporation Nagoya University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National University Corporation Nagoya University
Japanische staatliche Universität mit umfangreicher Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin, unter anderem bekannt für Arbeiten zu LED-Technologie. Trägerin zahlreicher Patente aus Universitätsforschung in Japan.
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Fachgebiete
Vertreten von
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TBK
TBK · München
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TBK-Patent
TBK-Patent · München